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超声波测厚仪 TIME2190

1 概述

1.1 适用范围

TIME2190超声波测厚仪采用脉冲反射式测量原理，适合各种材料厚度的测量。仪器通过探头发出超声波以恒定速度在材料内部进行传播，并在其底面得到反射波后进行接收。

该款仪器可对各种板材和加工零件作精确测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

特别适合难穿透材料的测厚检测，如特殊不锈钢，玻璃钢，超厚铸铁等。

1.2 基本原理

超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲进入被测物体后在物体内部传播，当到达材料的分界面时被反射回探头，通过精确计算超声波在材料中的传播声程便可推知被测材料的厚度。

1.3 仪器的特性

-可显示A扫描波形，便于对复杂工件进行回波分析和测量；

-具有多种测量方式，可设置空白以屏蔽余震或杂波；

-仪器可适配多种类型探头，单双晶适用；

-可穿透涂层测量，可显示涂层厚度；

-可以多层测厚， 同时显示两种材料厚度，适合堆焊层测厚仪和厚涂层分层测厚

-任何模式下分辨率为0.001、0.01、0.1毫米可选（或0.0001、0.001、0.01英寸可选）；

-增益调节范围40-99dB；

-可调电压可变脉宽方波脉冲发生器；

-具有单值B扫描显示功能；

-具有报警功能，可自由设置报警上、下限；

-具有差值、最大最小值显示方式；

-可存储多达500000个测量值和波形；

-用户可开启高达每秒20次的快速测量模式；

-可以选用软件，实现在线测量，也可以定制软件

1.4 基本配置及仪器各部分名称

   1.4.1 基本配置

主机 1台

5MHz双晶探头 1支

    耦合剂 1瓶

 1.4.2 选购件

标准试块

1MHz单晶接触探头

TSTU32 探头

5MHz单晶接触探头

15MHz单晶带延迟块探头

专用软件

2 性能范围

Ø 测量范围：

探头类型	测量范围（钢）	示值误差	使用模式
5MHz双晶窄脉冲探头：	1.2～225.0mm 3.0～100.0mm	H＜10mm，±0.05mm； H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H)mm	标准 回波-回波
5MHz单晶接触探头：	5.0～225.00mm 5.0～100.00mm	H＜10mm，±0.05 mm； H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H) mm	标准 回波-回波
2MHz双晶探头： TSTU32	3.0～300.00mm	H＜10mm，±0.1 mm； H≥10mm，±(0.01+1%H) mm	标准
1MHz单晶接触探头：	10.0～500.00mm	H＜10mm，±0.1 mm； H≥10mm，±(0.01+1%H) mm	标准
15MHz单晶延迟块探头：	3.0mm～20.0mm 0.15mm～10.0mm	H＜10mm，±0.05 mm； H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H) mm	界面-回波 回波-回波

Ø 分辨力：0.001mm 或0.01mm或0.1mm可选

Ø 声速调节范围：508 m/s～18699m/s

Ø 显示器：彩色TFT液晶显示器，320x240像素

Ø 脉冲发生器：可调方波脉冲发生器

Ø 发射电压：60V、110V、150V、200V可选

Ø 发射脉宽：随探头频率改变

Ø 增益范围：40-99dB，1dB步进

Ø 频率范围：0.5 Mhz～20Mhz

Ø 测量速率：标准(4Hz)、快速(20Hz)

Ø 探头设置：10组固定探头设置和22组自定义探头设置

Ø 数据存储：500个数据文件，每个可存储1000的测量值和波形

Ø 使用环境温度：0℃～40℃

Ø 电源：三节5号干电池

Ø 功耗：工作电流不超过250mA（关闭WiFi，亮度暗， 4.5V下）

Ø 外形尺寸：187mm×87 mm×43 mm

Ø 重量：360g左右

Ø 适用标准及规范：Q/HD SDF0001-2014超声波测厚仪

            JJF 1126-2004超声波测厚仪校准规范

            GB/T 6587  电子测量仪器通用规范